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CCI HD 非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀

測(cè)量性能上，CCI HD 針對(duì)不同厚度涂層展現(xiàn)出優(yōu)異的適應(yīng)性：

厚膜測(cè)量：可精準(zhǔn)分析厚度達(dá)約 1.5 微米的半透明涂料，廣泛應(yīng)用于相關(guān)材料的研發(fā)與生產(chǎn)檢測(cè)。需注意的是，實(shí)際測(cè)量的厚度上限會(huì)受材料折射率及標(biāo)的物數(shù)值孔徑（NA）影響，需根據(jù)具體檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行參數(shù)適配。

薄膜測(cè)量：突破了薄涂層測(cè)量的技術(shù)難點(diǎn)，借助的干涉測(cè)量法，能夠?qū)穸鹊椭?50 納米的薄膜涂層進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量（測(cè)量下限同樣與材料折射率相關(guān)）。更值得關(guān)注的是，通過這一新型測(cè)量方法，可在單次測(cè)量流程中同步獲取膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷及薄涂層表面剝離等關(guān)鍵特性參數(shù)，大幅提升檢測(cè)效率與數(shù)據(jù)完整性，為薄膜材料的質(zhì)量控制與性能研究提供全面數(shù)據(jù)支撐。