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膜厚儀在運用涂層測厚儀測量時盡量運用被測材質來作為調零的基體，以防止因為不同的材質而致使導磁性不同，而呈現測量誤差。等到在被測材質的同一部位調零以后，再實行一樣部位的測量，如在側臉工件邊緣及中間部分時當分別調零。


在應用膜厚儀儀實行測量時還該當注意探頭和被測料面維持垂直，以免發(fā)生大的誤差。若是測量的同一個點，可將探頭每次都離開10公分以上，間隔幾秒后再實行測量，以免被測材質探頭磁化而影響測量結果。
膜厚儀作為調零用的外表面須要盡量維持光滑，假如外表面不光滑，該當視狀況取平均值，由于外表面粗糙度對測量的數值影響較大。構造不同應分別實行調零測量，平面調零側臉平面，測量凹面調零后測量，測量凸面調零后實行測量，防止因為構造不同而在測量上發(fā)生誤差。