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ElektroPhysik*涂層測厚儀的校準標準片與基體
更新時間：2017-12-09 點擊次數(shù)：3061次
一、ElektroPhysik*涂層測厚儀的校準標準片（包括箔和基體）
二、ElektroPhysik*涂層測厚儀的基體
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。
1、校準箔
對涂層測厚儀“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準。
2、有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結合的覆蓋層作為標準片。對于本儀器，覆蓋層應是非磁性的。
二、ElektroPhysik*涂層測厚儀的基體
1、對于涂層測厚儀標準基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體與待測試件基體上所測得的讀數(shù)進行比較。
2、如果待測試件的基體金屬厚度沒有超過參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：
1） 在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標準片上校準；
2）用一足夠厚度的，電學或磁學性質(zhì)相似的金屬襯墊標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
3、如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。
